LCP-27 Difrakzio-intentsitatearen neurketa

Deskribapen laburra:

Sistema esperimentala hainbat zatik osatzen dute batez ere, hala nola, argi-iturri esperimentala, difrakzio-plaka, intentsitate-erregistroa, ordenagailua eta funtzionamendu-softwarea.Ordenagailuaren interfazearen bidez, emaitza esperimentalak plataforma optikorako eranskin gisa erabil daitezke, eta esperimentu gisa ere erabil daiteke.Sistemak sentsore fotoelektriko bat dauka argiaren intentsitatea neurtzeko eta zehaztasun handiko desplazamendu sentsore bat.Sare-erregelak desplazamendua neur dezake eta difrakzio-intentsitatearen banaketa zehatz-mehatz neur dezake.Ordenagailuak kontrolatzen ditu datuak eskuratzea eta prozesatzea, eta neurketaren emaitzak formula teorikoarekin aldera daitezke.

Bidali mezu elektronikoa

Produktuaren xehetasuna

Produktuen etiketak

Esperimentuak

1. Zirrikitu bakarreko, zirrikitu anitzeko, porotsu eta laukizuzen anitzeko difrakzioaren proba, difrakzio-intentsitatearen legea baldintza esperimentalekin aldatzen da

2.Ordenagailu bat erabiltzen da zirrikitu bakarraren intentsitate erlatiboa eta intentsitate banaketa grabatzeko, eta zirrikitu bakarreko difrakzioaren zabalera zirrikitu bakarraren zabalera kalkulatzeko erabiltzen da.

3. Zirrikitu anitzen, zulo angeluzuzenen eta zulo zirkularren difrakzioaren intentsitatearen banaketa behatzea.

4. Zirrikitu bakarreko Fraunhofer difrakzioa behatzeko

5.Argi-intentsitatearen banaketa zehaztea

Zehaztapenak

Elementua	Zehaztapenak
He-Ne Laser	>1,5 mW @ 632,8 nm
Zirrikitu bakarra	0 ~ 2 mm (erregulagarria) 0,01 mm-ko doitasunarekin
Irudiaren Neurketa Barrutia	0,03 mm-ko zirrikitu-zabalera, 0,06 mm-ko zirrikitu-tartea
Erreferentziazko Sare proiektiboa	0,03 mm-ko zirrikitu-zabalera, 0,06 mm-ko zirrikitu-tartea
CCD Sistema	0,03 mm-ko zirrikitu-zabalera, 0,06 mm-ko zirrikitu-tartea
Lente makroa	Siliziozko fotozelula
AC Potentzia Tentsioa	200 mm
Neurketaren Zehaztasuna	± 0,01 mm