LCP-27 Difrakzio-intentsitatearen neurketa

Deskribapen laburra:

Sistema esperimentala hainbat atalez osatuta dago batez ere, hala nola argi-iturri esperimentala, difrakzio-plaka, intentsitate-erregistragailua, ordenagailua eta funtzionamendu-softwarea. Ordenagailu-interfazearen bidez, emaitza esperimentalak plataforma optikorako eranskin gisa erabil daitezke, eta esperimentu gisa bakarrik ere erabil daiteke. Sistemak argi-intentsitatea neurtzeko sentsore fotoelektriko bat eta desplazamendu-sentsorea ditu zehaztasun handikoa. Sareta-erregelak desplazamendua neur dezake, eta difrakzio-intentsitatearen banaketa zehaztasunez neurtu. Ordenagailuak kontrolatzen ditu datuak eskuratzea eta prozesatzea, eta neurketaren emaitzak formula teorikoarekin alderatu daitezke.

Bidali mezu elektroniko bat guregana

Produktuaren xehetasuna

Produktuen etiketak

Esperimentuak

1. Zirrikitu bakarreko, zirrikitu anitzeko, porotsu eta laukizuzen anitzeko difrakzioaren proba, difrakzio intentsitatearen legea baldintza esperimentalekin aldatzen da

2. Ordenagailu bat erabiltzen da zirrikitu bakar baten intentsitate erlatiboa eta intentsitate banaketa erregistratzeko, eta zirrikitu bakarreko difrakzioaren zabalera erabiltzen da zirrikitu bakarraren zabalera kalkulatzeko.

3. Zirrikitu anitzeko, zulo angeluzuzen eta zulo zirkularreko difrakzioaren intentsitate banaketa behatzea

4. Zirrikitu bakarreko Fraunhofer difrakzioa behatzea

5. Argi-intentsitatearen banaketa zehazteko

Zehaztapenak

Elementua	Zehaztapenak
He-Ne laserra	>1,5 mW @ 632,8 nm
Zirrikitu bakarra	0 ~ 2 mm (erregulagarria) 0,01 mm-ko zehaztasunarekin
Irudiaren neurketa-tartea	0,03 mm-ko ebakidura-zabalera, 0,06 mm-ko ebakidura-tartea
Erreferentziazko Sareta Proiektiboa	0,03 mm-ko ebakidura-zabalera, 0,06 mm-ko ebakidura-tartea
CCD sistema	0,03 mm-ko ebakidura-zabalera, 0,06 mm-ko ebakidura-tartea
Makro lentea	Siliziozko fotozelula
Korronte alternoko tentsioa	200 mm
Neurketaren zehaztasuna	± 0,01 mm