LEEM-3 Eremu elektrikoa mapatzeko aparatua

Deskribapen laburra:

Ingeniaritza teknologian, sarritan beharrezkoa da elektrodo-sistemaren eremu elektrikoaren banaketa ezagutzea eremu elektrikoko elektroien edo partikula kargatuen higidura-legea aztertzeko.Esaterako, osziloskopioko hodiko elektroi-izpiaren fokatzea eta desbideratzea aztertzeko, beharrezkoa da osziloskopioko hodiko elektrodoaren eremu elektrikoaren banaketa ezagutzea.Hodi elektronikoan, elektrodo berrien sarrerak elektroien mugimenduan duen eragina aztertu behar dugu, eta eremu elektrikoaren banaketa ere ezagutu behar dugu.Oro har, eremu elektrikoaren banaketa ezagutzeko, metodo analitikoa eta simulazio-esperimentuen metodoa erabil daitezke.Baina kasu bakan batzuetan soilik lor daiteke eremu elektrikoaren banaketa metodo analitikoz.Elektrodo sistema orokor edo konplexurako, normalean simulazio-esperimentuaren bidez zehazten da.Simulazio esperimentuen metodoaren desabantaila zehaztasuna ez dela handia da, baina ingeniaritza orokorreko diseinurako, baldintzak bete ditzake.