LEEM-3 Eremu Elektrikoen Mapaketarako Aparatua

Deskribapen laburra:

Ingeniaritza teknologian, askotan beharrezkoa da elektrodo-sistemaren eremu elektrikoaren banaketa ezagutzea elektroien edo partikula kargatuen mugimendu-legea eremu elektrikoan aztertzeko. Adibidez, osziloskopio-hodian elektroi-izpiaren fokatzea eta desbideratzea aztertzeko, beharrezkoa da elektrodoaren eremu elektrikoaren banaketa osziloskopio-hodian ezagutzea. Elektroi-hodian, elektrodo berrien sarrerak elektroien mugimenduan duen eragina aztertu behar dugu, eta eremu elektrikoaren banaketa ere jakin behar dugu. Oro har, eremu elektrikoaren banaketa jakiteko, metodo analitikoa eta simulazio-esperimentuaren metodoa erabil daitezke. Baina kasu sinple gutxi batzuetan bakarrik lor daiteke eremu elektrikoaren banaketa metodo analitiko bidez. Elektrodo-sistema orokor edo konplexurako, normalean simulazio-esperimentuaren bidez zehazten da. Simulazio-esperimentuaren metodoaren desabantaila da zehaztasuna ez dela handia, baina ingeniaritza-diseinu orokorrerako, eskakizunak bete ditzakeela.