LEEM-16 Konstante dielektrikoko aparatua
Eduki esperimental nagusiak
1. e0 hutseko permisibitatearen eta er permisibitate erlatiboaren neurketa;
2. LC erresonantzia metodoa ikastea kapazitate txikia neurtzeko;
3. osziloskopio digitalaren erabilera ikastea.
Parametro tekniko nagusiak
| Deidazkera | Zehaztapenak |
| DDS seinale-sorgailua | 4,3 hazbeteko LCD pantaila, uhin sinusoidala eta uhin karratuaren maiztasuna 1μhz ~ 10mhz, seinalearen anplitudea 0 ~ 10vp-p, uhin-seinalearen desplazamendua eta fasea ezar daitezke, doikuntzarako tekla digitalak eta kodeketa etengailua erabiliz. |
| Erresistentzia estandarra | R1 = 1kω, zehaztasuna % 0,5.r2 = 30kω, zehaztasuna % 0,1 |
| Induktore estandarra | L=10,5 mh, zehaztasuna % 0,3 |
| Proba-plakaren zehaztapena | 297 × 300 mm, irekiera: Φ4mm, tarte tartea: 19mm, 50mm eta 100mm, etab., kontaktu-erresistentzia 5mω baino txikiagoa, korronte maximoa l0a, kapazitate banatua 1.5pf. |
| Probatu beharreko xafla dielektrikoa | Ptfe eta beira organikoa, φ40 * 2mm |
| Proba osagarriak | 4 mm-ko banana-entxufearen kablea, bnc-tik 4 mm-ko banana-entxufearen kablea, hortz-zuloa, etab. |
| Vernier kalibrea | 0-150 mm/0,02 mm |
| Mikrometro espirala | 0-25 mm/0,01 mm |
| Osziloskopio digitala | Norberak prestatuta |
Idatzi zure mezua hemen eta bidali iezaguzu
