LEEM-17 RLC zirkuitu esperimentua

Esperimentuak
1. Behatu RC, RL eta RLC zirkuituen anplitude-maiztasun-ezaugarriak eta fase-maiztasun-ezaugarriak;
2. Behatu RLC zirkuituaren serieko eta paraleloko erresonantzia-fenomenoak;
3. Behatu RC eta RL zirkuituen prozesu iragankorra eta neurtu τ denbora-konstantea;
4. Behatu RLC serieko zirkuituaren prozesu iragankorra eta moteltzea, eta neurtu erresistentzia-balio kritikoa.

Parametro tekniko nagusiak
1. Seinale iturria: DC, uhin sinua, uhin karratua;
Maiztasun-barrutia: uhin sinusoidala 50Hz~100kHz;uhin karratua 50Hz~1kHz;
Anplitudearen doikuntza-tartea: uhin sinusoidala, uhin karratua 0~8Vp-p;DC 2~8V;
2. Erresistentzia kutxa: 1Ω~100kΩ, gutxieneko urratsa 1Ω, zehaztasuna %1;
3. Kondentsadoreen kutxa: 0.001 ~ 1μF, gutxieneko urratsa 0.001μF, zehaztasuna % 2;
4. Induktantzia kutxa: 1~110mH, gutxieneko urratsa 1mH, zehaztasuna %2;
5. Beste parametro desberdinak ere pertsonaliza daitezke.Traza bikoitzeko osziloskopio batek bere burua prestatu behar du.